天瑞Thick800A镀层测厚仪介绍
仪器介绍
早期，X荧光镀层测厚仪基本被国外厂家（德国费希尔，日本精工，牛津等）垄断，用户可以选择的厂家比较少。天瑞仪器92年开始做光谱仪，是一家生产光谱仪的厂家，在X荧光镀层检测方面，率先打破国外的技术垄断。天瑞Thick800A内置了天瑞研发的信噪比增强器与数字多道分析器，在测试可以与进口设备PK过程中不落下风。超低的检出限使仪器的性能在与进口设备（费希尔，精工，牛津等）PK过程中不落下风；仪器使用方便，测试快捷，可以测试镀金、镀镍、镀铜、镀铬、镍锌、镀银、镀钯等金属镀层厚度。
镀层厚度测试方法一般有以下几种方法：
1、光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005
2、X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005
3、库仑法，此法一般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005
测量标准
1国标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
2.美国标准A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
天瑞Thick800A具如下特点：
1. 高移动平台可定位测试点，重复定位小于0.005mm；
2. 采用高度定位激光，可自动定位测试高度满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；
3. φ0.2mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求；
4. 定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐；
5. 鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点；
6. 高分辨率探头使分析结果更加精准，微小测试点更；
7. X射线镀层测厚仪厂家优势在于满足客户要求的情况下，价格更优惠、售后服务更方便，维护成本更低。
测试实例
镀镍器件是比较常见的电镀器件，其镍镀层在保护铜基体免受氧化同时还能起到美观的作用。这里以测试客户的一件铜镀镍样品为例说明此款仪器的测试效果。
以下使用Thick800A仪器对铜镀镍样品实际测试Ni层厚度，七次的结果其标准偏差和相对标准偏差。且可在样品上进行定位测试，其测试位置如图。
铜镀镍件X射线荧光测试谱图
铜镀镍件测试值
结论
实验表明，使用Thick800A 仪器对镀件膜厚测试，结果准确度高，速度快（几十秒），其测试效果完全可以和显微镜测试法媲美。