合金分析仪的工作原理
合金分析仪是基于X射线理论而诞生的，它主要用于航天、钢铁、石化、电力等领域金属材料中元素成份的现场测定。是伴随世界经济崛起的工业和军事制造领域必不可少的快速成份鉴定工具。
合金分析仪应用的是一种XRF光谱分析技术，可用于确认物质里的特定元素，同时将其量化。它可以根据X射线的发射波长及能量确定具体元素，而通过测量相应射线的密度来确定此元素的量。如此一来，XRF度普术就能测定物质的元素构成。
每一个原子都有自己固定数量的电子运行在核子周围的轨道上。而且其电子的数量等同于核子中的质子数量。从元素周期表中的原子数我们则可以得知质子的数目。能量色散X荧光与波长色散X荧光光谱分析技术特别研究与应用了里层三个电子轨道即K，L，M上的活动情况，其中K轨道为接近核子，每个电子轨道则对应某元素一个个特定的能量层。
在合金分析仪的XRF分析法中，从X光发射管里放射出来的高能初级射线光子会撞击样本元素。这些初级光子含有足够的能量可以将里层即K层或L层的电子撞击脱轨。这时，原子变成了不稳定的离子。由于电子本能会寻求稳定，外层L层或M层的电子会进入弥补内层的空间。在这些电子从外层进入内层的过程中，它们会释放出能量，我们称之为二次X射线光子。而整个过程则称为荧光辐射。每种元素的二次射线都各有特征。而X射线光子荧光辐射产生的能量是由电子转换过程中内层和外层之间的能量差决定的。