天瑞X荧光光谱仪详细介绍


    x荧光分析已广泛应用于材料、冶金、地质、生物医学、环境监测、天体物理、文物考古、刑事侦察、工业生产等诸多领域,是一种快速、无损、多元素同时测定的分析技术,可为相关生产企业提供一种可行的、低成本的、及时的检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径。本文就x荧光光谱仪的工作原理及其应用做简单介绍。

(一)、X荧光光谱仪简单介绍之---x荧光的基本原理:当一束高能粒子与原子相互作用时,如果其能量大于或等于原子某一轨道电子的结合能,将该轨道电子逐出,对应的形成一个空穴,使原子处于激发状态。此后在很短时间内,由于激发态不稳定,外层电子向空穴跃迁使原子恢复到平衡态,以降低原子能级。当较外层的电子跃迁(符合量子力学理论)至内层空穴所释放的能量以辐射的形式放出,便产生了x荧光。x荧光的能量与入射的能量无关,它只等于原子两能级之间的能量差。由于能量差完全由该元素原子的壳层电子能级决定,故称之为该元素的特征x射线,也称荧光x射线或x荧光。 x荧光光谱法就是由x射线光管发生的x射线激发样品,试样可以被激发出各种波长的特征x射线荧光,需要把混合的x射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的x射线的强度,以进行定性和定量分析的方法。该方法是一种非破坏性的分析方法,常用的有能量色散型和波长色散型两种类型。

(二)、X荧光光谱仪简单介绍之---X荧光光谱仪主要用途

X荧光光谱仪根据各元素的特征X射线的强度,也可以获得各元素的含量信息。

近年来,X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展,已成为一种广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域,特别是在RoHS检测领域应用得多也广泛。

大多数分析元素均可用其进行分析,可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品,分析范围为Be到U。并且具有分析速度快、测量范围宽、干扰小的特点。

(三)、 X荧光光谱仪简单介绍之---X荧光光谱仪的优缺点

1、优点

1) 分析时间短。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。

2) 适用范围广。X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内,这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定 。

3) 非破坏分析,重现性好。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好。

4) X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析。

5) 分析精密度高。

6) 制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。

2、缺点

1)难于作分析,故定量分析需要标样。

2)对轻元素的灵敏度要低一些。

3)容易受相互元素干扰和叠加峰影响。